HS-500高速及高靈敏性陣列測試系統是一個完整的LCD與AMOLED檢測方案,可於較前段的Array製程找出缺陷(Defect)與不均勻成像(MURA),為面板廠節省大量耗費於中後段之Cell及Module的製造成本。
1.量測面內畫素與周邊電路
2.客製化缺陷與MURA分析軟體及報表格式
3.滿足產線及實驗室需求
4.全自動化平行測試能力
5.針對產能、成本需求調整量測模組配置數量
6.搭配各式面板載台(prober)
生產線方案配置範例
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