Array Tester HS-500

HS-500高速及高靈敏性陣列測試系統是一個完整的LCD與AMOLED檢測方案,可於較前段的Array製程找出缺陷(Defect)與不均勻成像(MURA),為面板廠節省大量耗費於中後段之Cell及Module的製造成本。

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產品特色

 1.量測面內畫素與周邊電路
2.客製化缺陷與MURA分析軟體及報表格式
3.滿足產線及實驗室需求
4.全自動化平行測試能力
5.針對產能、成本需求調整量測模組配置數量
6.搭配各式面板載台(prober)

MURA 分析軟體

HS-500具有高解析度及絕對數值電性量測的基礎,可清楚呈現面板的Charge view,接著透過MURA軟體進行降噪,
再對降噪後的面板影像進行MURA分析。
使極細微差異的不均勻的成像也能夠被準確的辨別出來,幫助客戶及早發現陣列製造問題,降低後段製程的鉅額成本及時間耗費。

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HS-500

生產線方案配置範例

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